38DL测厚仪

标题：38DL测厚仪

产品概述

38DL测厚仪主要特性

■可与双晶探头和单晶探头兼容。

■宽泛的厚度测量范围：0.08毫米?635毫米, 具体可测厚度根据材料和所选探头而定。

■使用双晶探头进行腐蚀测厚操作。

■使用穿透涂层(THRU-COAT)技术和回波到回波功 能，可在带有漆层和涂层的表面上测量材料的厚度

■内部氧化层/沉积物软件选项。

■对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。

■在使用频率范围为2. 25 MHz?30 MHz的单晶探头 时，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚 度测量。

■多层软件选项可同时对多层材料的各层进行厚度测量, 多可同时测量4层。

■髙穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具 有高衰减性的材料。

■厚度、声速和渡越时间的测量。

■差分模式和缩减率模式。

■时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可回顾的读数。

■带有数字式滤波器的奥林巴斯高动态増益技术。

■用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。

■设计符合EN15317标准。

OLYMPUS奥林巴斯38DL测厚仪技术参数

双晶探头测量模式：从波励脉冲后蹄稿延迟琳一个回波之间的时间间隔。

穿透涂层测量模式：利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度（使用D7906-SM和D7908探头）。

穿透漆层回波到回波测量模式：在两个连県底面回波之闾的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。

单晶探头测量模式。

模式1：波励廠冲与个底面回波之间的时间间陽。

模式2：延迟块回波与个底面回波之间的时间间陽(使用延迟块或水浸式探头)。

模式3：在激励豚沖之后，位于个表面回波后的相邻底面回波之间的时何 间隔(使用延迟琳?头或水浸式探头)。

氧化层模式：可选购。

多层模式：可选购。

厚度范围：0.080毫米 ～ 635.00毫米，具体可测厚度根据材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。

材料声速范国：0.508 mm/μs ～ 13.998 mm/μs。

制率何选择：低分解率：0.1毫米 标准分瓣率：0.01毫米 高分常率(可迭项):0.001臺米。

探头频率范围：标准：2.0 MHz ～ 30 MHz（–3 dB）高穿透（可选项）：0.50 MHz ～ 30 MHz（–3 dB）

一般规格：

操作温度范围：–10°C ～ 50°C。

键区：密封、以色彩区分功能的键区，带有触感及声音反馈。

外壳：防撞击、防水、装有密封垫的机売，机売上的接口密封.设计符合IP67标准。

外型尺寸 （宽 × 高 × 厚）：总体尺寸：125»米X 211毫米X 46臺米。

重量：0.814公斤。

电源：AC/DC适配器，24 V；锂离子电池，23.760 Wh；或4节AA辅助电池。

钮离子电池供电时间：操作时间：少12.6小时，一般14小时，多14.7小时，快速充电：2到3小时。

标准：设计符合EN15317标准。

爆炸性气氛：通过了 MIL-STD-810G方法511. 5程序I中規定的测试。

显示：

彩色透反VGA显示：液晶显示，显示屏尺寸：56.16毫米 × 74.88毫米。

检波：全波、射频波、正半波、负半波。

输入/输出：

USB：1.0从接口。

RS-232：有。

存储卡容量：2 GB外置microSD存储卡。

视频输出：VGA输出标准。

内置数据记录器：

数据记录器：38DL PLUS测厚仪通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、调用、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置等信息。

容量：475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形。